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泰勒霍普森小型粗糙度儀測(cè)量原理
更新時(shí)間：2025-04-15 點(diǎn)擊次數(shù)：560次
泰勒霍普森小型粗糙度儀測(cè)量原理
測(cè)量原理
通過采用耐磨的金剛石測(cè)針部件，以及精密的機(jī)動(dòng)驅(qū)動(dòng)裝置，確保行進(jìn)正確的水平距離。當(dāng)測(cè)針劃過波峰和波谷時(shí)，高感應(yīng)度的壓電傳感器能檢測(cè)到它的垂直移動(dòng)，然后將機(jī)械移動(dòng)轉(zhuǎn)化為電子信號(hào)。電子信號(hào)將進(jìn)行數(shù)字化處理并發(fā)送到微處理器然后使用標(biāo)準(zhǔn)化算法即時(shí)計(jì)算表面粗糙度參數(shù)。
surtronic duo粗糙度儀
操作簡(jiǎn)單
Surtronic的理念是簡(jiǎn)單至上。每位檢驗(yàn)員都能通過此工具檢查表面粗糙度，即便更苛刻的應(yīng)用也不例外。
材料檢驗(yàn)
出廠檢驗(yàn)
生產(chǎn)線過程控制
檢查大型組件或零配件
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和可追溯性
所提供的標(biāo)準(zhǔn)能夠用于校正儀器和檢查測(cè)針磨損，以確?？偰軌虻玫阶顪?zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果。
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