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菲希爾X射線熒光測厚儀XUL小型臺式

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菲希爾X射線熒光測厚儀XUL小型臺式

低能射線元件激發(fā)效率較低；但是對于標準的測量典型電鍍層厚度的應用，如Cr、Ni、Cu，沒有任何問題。

FISCHERSCOPE X-RAY XUL220是一款、設計緊湊、應用廣泛的 X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。常用于無損測量細小工件上的鍍層厚度和材料分析。特別適合在質量管控、來料檢驗及生產(chǎn)過程控制中測量使用。

典型的應用領域有:

·在小部件，如螺釘、螺栓和螺帽上的測量

·在連接器和電氣元件上的測量

·電鍍液的溶液成分分析

比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，本款儀器有著出色的精確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準儀器所需的時間和精力。依靠FISCHER的基本參數(shù)法，可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

FISCHERSCOPE X-RAY XUL 220 是用戶界面友好的臺式測量儀。配備手動XY軸工作臺，用于細小樣品的精確定位。

為了樣品定位簡單快捷，X射線發(fā)生器和比例接收器都集成在儀器下部艙室中，因而樣品的底部是實際被測量面，樣品則由一層透明的薄膜托放在測量室中。

雖然儀器采用了緊湊型設計，但是其配置的超大測量室，使得對大型工件的測量也是同樣的得心應手。

所有的儀器操作，以及測量數(shù)據(jù)的計算和測量數(shù)據(jù)報表的清晰顯示，都可以通過功能強大而界面友好的 WinFTM@ 軟件在電腦上完成。